Le Service Commun de Recherche (SCR) regroupe les activités de soutien aux équipes de recherche du CRHEA. Il comprend la plateforme de technologie (CRHEATEC), les caractérisations optiques ainsi que les caractérisations structurales (DRX, AFM, MEB, TEM). Les différentes techniques du service sont utilisées par les chercheurs du laboratoire, les personnels SCR intervenant pour les mesures les plus pointues. Ces outils sont également accessibles aux laboratoires et entreprises extérieures. Des activités de recherche propres sont développées au sein du SCR en relation avec des thématiques internes ou externe au laboratoire.

Le Service Commun de Recherche travaille principalement sur les couches épitaxiées au CRHEA (nitrure d’éléments III, ZnO et ses alliages, SiC, graphène). L’activité de CRHEATEC consiste en la préparation d’échantillons pour l’épitaxie, et la réalisation et l’optimisation de dispositifs micro et optoélectroniques. Les caractérisations optiques du SCR couvrent une large gamme spectrale, de l’ultraviolet jusqu’à l’infrarouge. Ces dispositifs permettent une évaluation rapide des matériaux ainsi que le développement d’analyses plus complètes pour mettre à jour des propriétés ou des mécanismes encore peu connus au sein de la classe de matériaux élaborés au laboratoire. La diffraction des rayons X (DRX) permet de déterminer la qualité cristalline des couches épitaxiées ainsi que leur état de contrainte, la composition des alliages réalisés ainsi que leur épaisseur, et les compositions/épaisseurs des multicouches. Ces épaisseurs peuvent être également déterminées par microcopie électronique à balayage (MEB), après clivage de l’échantillon. Cette technique permet aussi l’imagerie de contraste chimique. La microscopie à force atomique (AFM) montre les marches atomiques et les dislocations traversantes des couches épitaxiées, permet de mesurer la rugosité de surface des couches et d’évaluer la taille des boîtes quantiques. Ces dernières sont aussi largement étudiées en microscopie électronique à transmission (MET), cette technique permettant une mesure précise des épaisseurs, compositions et morphologie d’hétéro-structures ayant des tailles du micromètre au nanomètre ainsi que l’analyse des défauts structuraux (mesure des densités, détermination de leur nature).

Le pôle d’expertise en caractérisation présente la description technique des outils de caractérisations structurales et optiques utilisés et maintenus par SCR.

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