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53 brevets avec des chercheurs du CRHEA comme inventeurs classés par date - Critères de recherche:


X
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EP4174912A1
03/05/2023

Method of vertical growth of III-V material

Matthew Charles, Yvon Cordier
US2023136949A1, FR3128818(A1)


EP4116766AA
11/01/2023

Fast active beam-steering device and apparatus operating in transmission mode

Christina Kyrou, Patrice Genevet, Samira Khadir, Renato Juliano Martins


EP4071515A1
12/10/2022

System and method for imaging in the optical domain

Patrice Genevet, Renato Juliano Martins, Samira Khadir, Massimo Giudici


EP 4 020 604 A1
29/06/2022

EP3311394 (B1)
19/01/2022

Procédé permettant d'obtenir sur un substrat cristallin une couche semi-polaire de nitrure de groupe III

M. El Khoury Maroun, G. Feuillet, P. Vennéguès, J. Zúñiga-Pérez
FR3037711 (A1), FR3037713 (A1), FR3037713 (B1), JP2018520977 (A), US11139167 (B2), US2018182622 (A1), WO2016202899 (A1)


US11139167
05/10/2021

Growth of semipolar GaN on facetted silicon pilar-like structures for Led

J. Zúñiga-Pérez, P. Vennéguès, G. Feuillet


WO2021160664A1
19/08/2021

PROCEDE DE FABRICATION DE NANOSTRUCTURES DE NITRURE D'ALUMINIUM ET DE GALLIUM (AlGaN)

BRAULT, Julien; AL KHALFIOUI, Mohamed; MASSIES, Jean; GIL, Bernard
EP4104203A1; FR3107051A1; FR3107051B1


WO2020254695 (A1)
24/12/2020

Procédé de réalisation de vignettes de nitrure destinées chacune à former un dispositif électronique ou optoélectronique

G. Feuillet, B. Alloing, H. Bono, R. Dagher, J. Zúñiga-Pérez, M. Charles, J. Buckley, R. Escoffier
FR3097681 (A1), FR3097681 (B1)


FR3091022 (B1)
11/12/2020

Procédé de fabrication de structures optoélectroniques pourvues de diodes électroluminescentes coplanaires

G.Feuillet, B. Damilano, J.Y. Duboz, C. Largeron
FR3091022 (A1), CN111354757 (A), EP3671842 (A1), US2020203556 (A1)


FR3093862 (A1)
18/09/2020

Structure semi-conductrice optoélectronique comprenant une couche d’injection de type p à base d’InGaN

D. Sotta, M. Rozhavskaia, B. Damilano
CN113272972 (A), EP3939097 (A1), TW202101784 (A), WO2020182457 (A1)


US2019285547 (A1)
19/09/2019

Device and method for providing illumination for total-internal-reflection fluorescence microscopy using opaque mask

A. Giacomotti, M. Brunstein, A. Cattoni, S. Bouchoule, B. Damilano, D. Lefebvre
EP3465320 (A1), EP3465320 (B1), FR3051921 (A1), FR3051921 (B1), JP2019522814 (A), JP6918023 (B2), US11047799 (B2), WO2017207360 (A1)


US2018327929 (A1)
15/11/2018

Method for producing nanostructures

S. Vézian, B. Damilano, J. Brault
CN107849735 (A), EP3307927 (A1), FR3037341 (A1), JP2018526230 (A), JP6772192 (B2), KR20180017124 (A), US11085130 (B2), WO2016198341 (A1)


FR3031833 (B1)
05/10/2018

Procédé de fabrication d’une structure semi-conductrice à base de nitrures d’éléments III passivée et une telle structure

F. Semond, J. Massies, E. Frayssinet
CN107408492 (A), EP3248212 (A1), FR3031833 (A1), US2018012753 (A1), JP2018509754 (A), KR20170105598 (A), WO2016116713 (A1)


FR3031834 (B1)
05/10/2018

Fabrication d’un support semi-conducteur à base de nitrures d’éléments III

F. Semond, J. Massies, E. Frayssinet
FR3031834 (A1), CN107251189 (A), EP3248213 (A1), JP2018509755 (A), KR20170102022 (A), US2018019120 (A1), WO2016116715 (A1)


US10043871 (B1)
07/08/2018

FR3051921 (B1)
01/06/2018

Dispositif et procédé d'éclairage pour microscopie de fluorescence à onde évanescente

A. Giacomotti, M. Brunstein, A Cattoni, S. Bouchoule, B. Damilano, D. Lefebvre
WO2017207360 (A1)


FR3059147 (A1)
25/05/2018

Hétérostructures semi-conductrices avec structure de type wurtzite sur substrat en ZnO

J. Brault, M. Al Khalfioui, B. Damilano, J.M. Chauveau
WO201809150(A1)


FR3047841 (B1)
25/05/2018

Transducteur électromécanique à base de nitrure de gallium dopé

M. Faucher, Y. Cordier
FR3047841 (A1), WO2017140664 (A1)


FR3049946 (B1)
13/04/2018

Procédé de fabrication d’une cavité auto-scellée délimitée par une membrane de carbure de silicium

R. Khazaka, M. Portail, J-F. Michaud, D. Alquier
FR3049946 (A1), WO2017174709 (A1)


FR3032064 (B1)
09/03/2018

Dispositif optoélectronique et son procédé de fabrication

J. Zúñiga-Pérez, S. Scaringella, B. Amstatt
EP3248227 (A1), FR3032064 (A1), WO2016116703 (A1), US2018277717 (A1)


FR3044464 (B1)
09/02/2018

Procédé permettant d'obtenir sur un substrat cristallin une couche semi-polaire de nitrure

G. Feuillet, M. Khoury, P. Vennéguès, J. Zúñiga-Pérez
KR20180088878 (A), FR3044464 (A1), WO2017093359 (A1)


FR3017242 (B1)
01/09/2017

Diode Schottky verticale au nitrure de gallium

Y. Arnaud, D. Alquier, Y. Cordier
CN104821341 (A), CN204516775 (U), FR3017242 (A1), US2015221782 (A1)


FR3019380 (B1)
01/09/2017

Pixel semiconducteur, matrice de tels pixels, structure semiconductrice pour la réalisation de tels pixels et leurs procédés de fabrication

B. Damilano, J-Y. Duboz
EP3127159 (A1), FR3019380 (A1), US2017213868 (A1), JP2017513225 (A), KR20160139004 (A), WO2015150281 (A1)


FR3048002 (A1)
25/08/2017

Method making it possible to obtain a semi-polar nitride layer on a crystalline substrate

G. Feuillet, M. Khoury, P. Vennéguès, J. Zúñiga-Pérez
US2018182622 (A1)


FR3038714 (B1)
25/08/2017

FR3037713 (B1)
09/06/2017

Procédé permettant d'obtenir sur un substrat cristallin une couche semi-polaire de nitrure obtenu avec l'un au moins parmi les matériaux suivants: gallium (Ga) et aluminium (Al)

M. Khoury, G. Feuillet, P. Vennéguès, J. Zúñiga-Pérez
EP3311394 (A1), FR3037711 (A1), FR3037713 (A1), US2018182622 (A1), JP2018520977 (A), WO2016202899 (A1)


CN106460229 (A)
22/02/2017

Doped rare earth nitride materials and devices comprising same

F. Natali, B.J. Ruck, H.J. Trodahl, S. Vézian
EP3127146 (A2), EP3127146 (A4), JP2017511294 (A), KR20170005409 (A), US2017022632 (A1), WO2015152737 (A2), WO2015152737 (A3)


FR3037341 (A1)
16/12/2016

Procédé de fabrication d'au moins un type de nanostructures et structures comprenant une pluralité de telles nanostructures

S. Vézian, B. Damilano, J. Brault
EP3307927 (A1), CN107849735 (A), JP2018526230 (A), KR20180017124 (A), WO2016198341 (A1)


FR3003402 (B1)
04/11/2016

Dispositif monolithique émetteur de lumière

B. Damilano, H. Kim-Chauveau, E. Frayssinet, J. Brault, P. De Mierry, S. Chenot, J. Massies
CN105122475 (A), CN105122475 (B), EP2973754 (A1), FR3003402 (A1), US2016043272 (A1), JP2016513878 (A), WO2014140118 (A1)


FR3001334 (B1)
06/05/2016

Procédé de fabrication de diodes blanches monolithiques

G. Nataf, P. de Mierry, S. Chenot
CN105051917 (A), CN105051917 (B), EP2948987 (A1), FR3001334 (A1), US2016005918 (A1), JP2016508668 (A), US9728673 (B2), WO2014114731 (A1)


FR3021454 (A1)
27/11/2015

Procédé de fabrication d'un matériau semi-conducteur incluant une couche de nitrure d'élément III semi-polaire

P. de Mierry, F. Tendille, P. Vennéguès
EP3146558 (A1), US2017092482 (A1), JP2017522721 (A), WO2015177220 (A1)


FR2977260 (B1)
19/07/2013

Procédé de fabrication d'une couche épitaxiale épaisse de nitrure de gallium sur un substrat de silicium ou analogue et couche obtenue par ledit procédé

D. Schenk, A. Bavard, E. Frayssinet, M. Kennard, D. Rondi, Y. Cordier
CN103828019 (A), CN103828019 (B), EP2727133 (A1), FR2977260 (A1), US2014327013 (A1), JP2014527707 (A), KR20140096018 (A), TW201305397 (A), TWI468562 (B), US9093271 (B2), WO2013001014 (A1)


WO2013084020 (A1)
13/06/2013

FR 2963985 (A1)
24/02/2012

Diode Shottky verticale au nitrure de Gallium

D. Alquier, Y. Arnaud, Y. Cordier, E. Frayssinet, M. Kennard


FR2926675 (B1)
29/07/2011

US7560296 (B2)
14/07/2009

Process for reducing an epitaxial layer of gallium nitride

E. Frayssinet, B. Beaumont, J.P. Faurie, P. Gibart
US2007072320 (A1), US2010001289 (A1), US8030101 (B2)


FR2908925 (B1)
20/02/2009

Procédé d'intégration d'un composant de type III-N tel que du GaN, sur un substrat de silicium (001) nominal

S. Joblot, F. Semond, J. Massies, Y. Cordier, J-Y. Duboz
FR2908925 (A1), US2008149936 (A1), US7785991 (B2)


FR2898434 (B1)
23/05/2008

Diode électroluminescente blanche monolithique

J. Massies, B. Damilano
EP1994571 (A1), FR2898434 (A1), US2011045623 (A1), JP2009530803 (A), KR20080104368 (A), US2009101934 (A1), US8470618 (B2), WO2007104884 (A1)


FR2888398 (B1)
21/12/2007

Couche de siliciumtrès sensible à l'oxygène et procédé d'obtention de cette couche

P. Soukiassian, F. Semond
EP1900012 (A1), FR2888398 (A1), US2009294776 (A1), JP2008544945 (A), WO2007003638 (A1)


US7118929 (B2)
10/10/2006

Process for producing an epitaxial layer of gallium nitride

E. Frayssinet, B. Beaumont, J.P. Faurie, P. Gibart
US2004137732 (A1)


FR2807909 (B1)
28/07/2006

Couche mince semi-conductrice de GaInN, son procédé de préparation; DEL comprenant cette couche et dispositif d'éclairage comprenant celle DEL

J. Massies, N. Grandjean, B. Damilano
AU5048601 (A), CA2405517 (A1), CA2405517 (C), CN1422444 (A), EP1273049 (A1), EP1273049 (B1), FR2807909 (A1), FR2807909 (B1), JP2003530703 (A), JP5296280 (B2), KR100900933 (B1), KR20030001405 (A), US2003092209 (A1), US6730943 (B2), WO0178157 (A1), AT524836 (T)


FR2860248 (B1)
17/02/2006

Procédé de réalisation de substrats autosupportés de nitrures d'éléments III par hétéro épitaxie sur une couche sacrificielle

E. Feltin, Z. Bougrioua, G. Nataf
WO2005031045 (A3), AT414189 (T), AU2004276541 (A1), AU2004276541 (B2), CA2540245 (A1), CA2540245 (C), CN100387760 (C), CN1882720 (A), EP1699951 (A2), EP1699951 (B1), FR2860248 (A1), WO2005031045 (A2), JP2007506635 (A), JP4783288 (B2), KR20060079249 (A), US2007072396 (A1), US7282381 (B2)


FR2842832 (B1)
20/01/2006

Procédé de réalisation par épitaxie en phase vapeur d'un film de nitrure de gallium à faible densité de défaut

B. Beaumont, P. Gibart, J.P. Faurie
AU2003269052 (A1), AU2003269052 (A8), CN1329560 (C), CN1678771 (A), EP1525340 (A2), EP1525340 (B1), FR2842832 (A1), AT525499 (T), HK1097886 (A1), JP2005534182 (A), JP4444104 (B2), KR100950903 (B1), KR20050026962 (A), US2006099781 (A1), US7455729 (B2), WO2004012227 (A2), WO2004012227 (A3)


FR2860101 (B1)
21/10/2005

Protection de la surface du SiC par une couhe de GaN

B. Daudin, J. Brault
AT532213 (T) EP1517368 (A2) EP1517368 (A3) EP1517368 (B1) FR2860101 (A1), JP2005097104 (A), JP4745635 (B2), US2005202284 (A1), US7354619 (B2)


FR2840452 (B1)
14/10/2005

Procédé de réalisation par épitaxie d'un film de nitrure de gallium séparé de son substrat

H. Lahreche, G. Nataf, B. Beaumont
AU2003255613 (A1), AU2003255613 (A8), EP1514297 (A2), FR2840452 (A1), JP2010251776 (A), JP2005527978 (A), US2005217565 (A1), US7488385 (B2), WO03100839 (A2), WO03100839 (A3)


FR2810159 (B1)
08/04/2005

Couche épaisse de nitrurede gallium ou de nitrure mixte de gallium et d'un autre métail, procédé de préparation et dispositif électronique ou optoélectroniue comprenant un telle couche

F. Semond, N. Grandjean, J. Massies
CN101241883 (B), AU6613101 (A), CA2411606 (A1), CA2411606 (C), CN100380588 (C), CN1436365 (A), EP1290721 (A1), EP1290721 (B1), FR2810159 (A1), CN101241883 (A), JP2003536257 (A), JP5378634 (B2), KR100897589 (B1), KR20030007896 (A), US2003136333 (A1), US2008048207 (A1), US2008050894 (A1), US2008185611 (A2), US2008188065 (A2), US7273664 (B2), US7767307 (B2), US7776154 (B2), WO0195380 (A1)


FR2803433 (B1)
14/02/2003

US6445009 (B1)
03/09/2002

FR2769924 (B1)
10/03/2000

Procédé de réalisation d'une couche épitaxiale de nitrure de gallium, couche épitaxiale de nitrure de gallium et composant électronique muni d'une telle couche

S. Haffouz,P. Gibart, B. Guillaume, G. Nataf, M. Vaille, B. Beaumont
AT303462 (T) AT500358 (T) AU9632498 (A) CN1267587 (C) CN1279733 (A), CN1329954 (C), CN1607641 (A), DE69831419 (T2), EP1034325 (A1), EP1034325 (B1), EP1034325 (B9), EP1338683 (A2), EP1338683 (A3), EP1338683 (B1), FR2769924 (A1), ES2369467 (T3), HK1075131 (A1), JP2001520169 (A), JP4282896 (B2), KR100626625 (B1), KR20010031225 (A), PT1338683 (E), SG103342 (A1), US2002152952 (A1), US6325850 (B1), US6802902 (B2), WO9920816 (A1)


FR2769924 (B1)
10/03/2000

Procédé de réalisation d'une couche épitaxiale de nitrure de gallium, couche épitaxiale et composant optoélectronique muni d'une telle couche

B. Beaumont, P. Gibart, J.C. Guillaume, G. Nataf, M. Vaille, S. Haffouz
US6325850 (X6) AT303462 (T) AT500358 (T) AU9632498 (A) CN1267587 (C), CN1279733 (A), CN1329954 (C), CN1607641 (A), DE69831419 (T2), EP1034325 (A1), EP1034325 (B1), EP1034325 (B9), EP1338683 (A2), EP1338683 (A3), EP1338683 (B1), ES2369467 (T3), FR2769924 (A1), US6325850 (B1), HK1075131 (A1), JP2001520169 (A), JP4282896 (B2), KR100626625 (B1), KR20010031225 (A), PT1338683 (E), SG103342 (A1), US2002152952 (A1), US6802902 (B2), WO9920816 (A1)


FR2757183 (B1)
05/02/1999

Fils atomiques de grande longueur et de grande stabilité, procédé de fabrication de ces fils, application en nano-électronique

G. Dujardin, A. Mayne, F. Semond, P. Soukiassian
AT235743 (T), DE69720249 (T2), DK0944916 (T3), EP0944916 (A1), EP0944916 (B1), FR2757183 (A1), US6274234 (B), JP2001506806 (A), JP4327254 (B2), WO9827578 (A1)


FR2693594 (B1)
26/08/1994

Détecteur d'ondes électromagnétiques à puits quantiques

P. Bois, E. Rosencher, B. Vinter, J. Massies, G. Neu, N. Grandjean
EP0578557 (A1), FR2693594 (A1), US5506418 (A)


FR3048002 (A1)

Procédure permettant d'obtenir sur un substrat cristallin une couche semi-polaire de nitrure

G. Feuillet, M. Khoury, P. Vennéguès, J. Zúñiga-Pérez
WO2017144429 (A1)